KAIST等团队开发出蓝色磷光OLED寿命的非破坏性检测新方法

KAIST联合韩巴特国立大学、庆熙大学及ASTA研究所开发出一种非破坏性方法，可在不进行长时间老化测试的前提下推算蓝色磷光OLED器件的寿命，有望加快新型PHOLED发光体设计并降低成本。研究团队证实蓝色磷光OLED的工作寿命与其在磁场下的电致发光（EL）响应存在定量关联，并提出可反映磁场中自旋对动力学降解敏感性的磁电致发光响应函数加以解释。