KAIST等团队开发出蓝色磷光OLED寿命的非破坏性检测新方法
KAIST联合韩巴特国立大学、庆熙大学及ASTA研究所开发出一种非破坏性方法，可在不进行长时间老化测试的前提下推算蓝色磷光OLED器件的寿命，有望加快新型PHOLED发光体设计并降低成本。研究团队证实蓝色磷光OLED的工作寿命与其在磁场下的电致发光（EL）响应存在定量关联，并提出可反映磁场中自旋对动力学降解敏感性的磁电致发光响应函数加以解释。
#显示材料
#显示材料
今日 0 条OLED-InfoAI 评分4545
MicroLED-InfoAI 评分3232 吉林大学研究团队在4英寸晶圆上开发出适用于Micro LED显示的高效率弱极化GaN LED
吉林大学张源涛教授团队在标准极性c面4英寸晶圆上，以工业级MOCVD系统制备出高效率弱极化电场（weak-PEF）蓝光III族氮化物LED。研究发现AlGaN势垒生长阶段的NH3流量是影响InGaN/AlGaN数字合金势垒质量的关键因素，调控NH3流量可改善界面质量、抑制缺陷并提升光学性能。